薄膜接合界面の非破壊分析の現状と展望 Non-destructive Analysis of Thin Films Contact Systems : Present and Future

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  • 全国講演大会講演論文集

    全国講演大会講演論文集 70, 14-20, 1999-10-27

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  • <no title>

    CHU W. K.

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    被引用文献15件

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    IWAMI M.

    Nucl.Instr.Meth. B33, 615, 1988

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    MARGARITONDO G.

    Introduction to Synchrotoron Radiation, 1988

    被引用文献2件

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    AKIMOTO K.

    Jpn.J.Appl.Sci. 24, 1425, 1985

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    IWAMI M.

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    藤井達也

    真空 40, 201, 1997

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    TROMP R. M.

    Thin Solid Films 93, 151, 1982

    DOI 被引用文献3件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10004575652
  • NII書誌ID(NCID)
    AA11461805
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    OTR
  • データ提供元
    CJP書誌 
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