常温で形成されたPt/Si界面反応層の電顕観察

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タイトル別名
  • TEM observation of Pt/Si interface formed at room temperature

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  • CRID
    1571980074152456704
  • NII論文ID
    10004659580
  • NII書誌ID
    AN00080051
  • ISSN
    03871096
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • CiNii Articles

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