ＤＡＣ技術入門　ＩＩ　　ＤＡＣの半導体の光学測定への応用

• 小林 利彦

  神戸大学工学部 電気電子工学科

書誌事項

タイトル別名

• Introduction to DAC Technique. II. Application of DAC to Optical Studies of Semiconductors.
• DAC ノ ハンドウタイ ノ コウガク ソクテイ エ ノ オウヨウ

抄録

In this article, a diamond anvil cell system for optical studies at variable pressure and at low temperatures is described. A remotely controlled pneumatic driver unit, which consists of a pair of coaxial bellows, operates with helium gas. The setup and techniques for photoreflectance (PR) and time-resolved photoluminescence (TRPL) measurements with a diamond anvil cell are presented. Examples of the application to PR and TRPL in III-V semiconductor alloys under high pressure are shown.

収録刊行物

• 高圧力の科学と技術

  高圧力の科学と技術 9 (4), 285-292, 1999

  日本高圧力学会

キーワード

• DAC
• photoreflectance
• time-resolved photoluminesceence
• III-V semiconductor alloys
• lifetime
• spatially indirect recombination
• heterointerface

詳細情報

• CRID: 1390282679358128512
• NII論文ID: 10004664158
• NII書誌ID: AN10452913
• DOI: 10.4131/jshpreview.9.285
• ISSN: 13481940
• ISSN: 0917639X
• NDL書誌ID: 4929478
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I4929478
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • NDL
  • Crossref
  • CiNii Articles
• 抄録ライセンスフラグ: 使用不可