Radioscopy Testing for IC and Parts Joints with 3-D Imaging System

• IKEDA Y.

  (財)ファインセラミックスセンター

• MIZUDA Y.

  (財)ファインセラミックスセンター

• HIRASHIMA R.

  (株)ユニハイト

Bibliographic Information

Other Title

• 3-D透視システムを用いた電子部品検査

Journal

• 大会講演概要集

  大会講演概要集 2000 (1), 33-34, 2000-05-16

Keywords

• 工業用X線装置
• マイクロフォーカス
• 3次元DR
• 高拡大率撮影
• 電子部品

Details

• CRID: 1573105974076064640
• NII Article ID: 10004667214
• NII Book ID: AA11592632
• Text Lang: ja
• Data Source:
  • CiNii Articles