多端子型直流電位差法による多数き裂の分布評価 Evaluation of Distribution of Multiple Cracks by Direct-Current Electrical Potential Method with Multiple-Type Probe

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収録刊行物

  • 大会講演概要集  

    大会講演概要集 2000(1), 111-112, 2000-05-16 

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10004667308
  • NII書誌ID(NCID)
    AA11592632
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    OTR
  • データ提供元
    CJP書誌 
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