Evaluation of Distribution of Multiple Cracks by Direct-Current Electrical Potential Method with Multiple-Type Probe

• BANDO M.

  京都大学大学院

• TADA N.

  京都大学大学院

• SATOYOSHI H.

  京都大学大学院

• OHTANI R.

  京都大学大学院

Bibliographic Information

Other Title

• 多端子型直流電位差法による多数き裂の分布評価

Journal

• 大会講演概要集

  大会講演概要集 2000 (1), 111-112, 2000-05-16

Keywords

• 非破壊検査
• 逆問題
• 多数き裂
• 多端子型直流電位差法

Details

• CRID: 1573950399005931520
• NII Article ID: 10004667308
• NII Book ID: AA11592632
• Text Lang: ja
• Data Source:
  • CiNii Articles