多端子型直流電位差法による多数き裂の分布評価

• 坂東 正樹

  京都大学大学院

• 多田 直哉

  京都大学大学院

• 里吉 寛之

  京都大学大学院

• 大谷 隆一

  京都大学大学院

書誌事項

タイトル別名

• Evaluation of Distribution of Multiple Cracks by Direct-Current Electrical Potential Method with Multiple-Type Probe

収録刊行物

• 大会講演概要集

  大会講演概要集 2000 (1), 111-112, 2000-05-16

キーワード

• 非破壊検査
• 逆問題
• 多数き裂
• 多端子型直流電位差法

詳細情報

• CRID: 1573950399005931520
• NII論文ID: 10004667308
• NII書誌ID: AA11592632
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles