渦電流探傷試験における差動TR型プローブの開発と信号測定による性能評価 Development of Differential TR Type Probe and Performance Evaluation with Signal Measurement for ECT

この論文をさがす

著者

収録刊行物

  • 大会講演概要集  

    大会講演概要集 2000(2), 139-140, 2000-11-01 

参考文献:  2件

参考文献を見るにはログインが必要です。ユーザIDをお持ちでない方は新規登録してください。

被引用文献:  1件

被引用文献を見るにはログインが必要です。ユーザIDをお持ちでない方は新規登録してください。

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10004667495
  • NII書誌ID(NCID)
    AA11592632
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    OTR
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用 
ページトップへ