渦電流探傷ラウンドロビンテストの逆問題解析

• 黄 皓宇

  東北大学

• 高木 敏行

  東北大学

書誌事項

タイトル別名

• Inverse Analysis of Round-robin Test by ECT

収録刊行物

• 大会講演概要集

  大会講演概要集 2000 (2), 143-144, 2000-11-01

キーワード

• 渦電流探傷試験
• ラウンドロビンテスト
• 自然き裂
• 複数EDMき裂
• 逆問題

詳細情報

• CRID: 1571135649239252096
• NII論文ID: 10004667501
• NII書誌ID: AA11592632
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • CiNii Articles