きず寸法計測支援機能を有するTOFD装置の開発 Development of TOFD System with Support Functions for Measuring Dimension of Flaws

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収録刊行物

  • 大会講演概要集  

    大会講演概要集 2000(2), 223-224, 2000-11-01 

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10004667617
  • NII書誌ID(NCID)
    AA11592632
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    OTR
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用 
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