Development of TOFD System with Support Functions for Measuring Dimension of Flaws

• KAMIOKA M.

  川崎重工業(株)

• KIZU T.

  (株)アイ・エム・シー

• FUKUNAGA I.

  川重検査サービス(株)

• YAMAGUCHI M.

  ダイヤ電子応用(株)

• YAMAZAKI T.

  東洋焼鈍(株)

• OGATA T.

  (財)新産業創造研究機構

Bibliographic Information

Other Title

• きず寸法計測支援機能を有するTOFD装置の開発

Journal

• 大会講演概要集

  大会講演概要集 2000 (2), 223-224, 2000-11-01

Keywords

• 超音波探傷装置
• TOFD法
• 信号処理
• 可視化
• 寸法計測

Details

• CRID: 1574231873982572416
• NII Article ID: 10004667617
• NII Book ID: AA11592632
• Text Lang: ja
• Data Source:
  • CiNii Articles