電子顕微鏡・電子回折の拓く道 The Past and Future of Electron Microscopy and Electron Diffraction

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著者

収録刊行物

  • 日本結晶学会誌  

    日本結晶学会誌 42(3), 264-268, 2000-06-30 

    The Crystallographic Society of Japan

参考文献:  8件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10004673533
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00188364
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    OTR
  • ISSN
    03694585
  • NDL 記事登録ID
    5391752
  • NDL 雑誌分類
    ZM46(科学技術--地球科学--岩石・鉱物・鉱床)
  • NDL 請求記号
    Z15-138
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL  J-STAGE 
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