電子顕微鏡・電子回折の拓く道 The Past and Future of Electron Microscopy and Electron Diffraction

この論文にアクセスする

この論文をさがす

著者

収録刊行物

  • 日本結晶学会誌

    日本結晶学会誌 42(3), 264-268, 2000-06-30

    The Crystallographic Society of Japan

参考文献:  8件中 1-8件 を表示

  • <no title>

    HIRSCH P. B.

    Electron Microscopy of Thin Crystals, 1965

    被引用文献25件

  • <no title>

    COWLEY J. M.

    Diffaction Physics 2^<nd> ed., 1981

    被引用文献1件

  • <no title>

    RAETHER H.

    Springer Tracts in Modern Physics 88, 1, 1980

    被引用文献1件

  • <no title>

    COLLIEX C.

    Advances in Optical and Electron Microscopy 9, 65, 1984

    被引用文献1件

  • <no title>

    SPENCE J. C. H.

    Electron Microdiffraction, 1992

    被引用文献18件

  • <no title>

    PENNYCOOK S. J.

    Ultramicroscopy 30, 58, 1988

    被引用文献1件

  • <no title>

    SPENCE J. C. H.

    J. Microsc. 130, 147, 1983

    被引用文献4件

  • <no title>

    ROSE H.

    Energy-Filtering Transmission Electron Microscopy 43, 1994

    被引用文献1件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10004673533
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00188364
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    OTR
  • ISSN
    03694585
  • NDL 記事登録ID
    5391752
  • NDL 雑誌分類
    ZM46(科学技術--地球科学--岩石・鉱物・鉱床)
  • NDL 請求記号
    Z15-138
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL  J-STAGE 
ページトップへ