X線結晶構造解析による金属-π配位結合の電子密度解析-CCDエリアディテクタの利用と電子密度の新しい解釈方法

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収録刊行物

  • 化学と工業 = Chemistry and chemical industry  

    化学と工業 = Chemistry and chemical industry 51(12), 1905, 1998-12-01 

参考文献:  4件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10004681747
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00037562
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    OTR
  • ISSN
    00227684
  • データ提供元
    CJP書誌 
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