化学修飾深針を用いた走査型プローブ顕微鏡に関する基礎研究 Scanning probe microscopy using chemically modified tips

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  • 分析化学 = Japan analyst  

    分析化学 = Japan analyst 48(9), 867-868, 1999-09 

参考文献:  4件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10004686144
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00222633
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    OTR
  • ISSN
    05251931
  • データ提供元
    CJP書誌 
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