EPMAを用いた化学状態別深さ方向分析法 Depth Profiling for Chemical States using EPMA

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  • 材料とプロセス : 日本鉄鋼協会講演論文集 = Current advances in materials and processes : report of the ISIJ meeting

    材料とプロセス : 日本鉄鋼協会講演論文集 = Current advances in materials and processes : report of the ISIJ meeting 13(6), 1409-1412, 2000-09-01

参考文献:  7件中 1-7件 を表示

  • <no title>

    SUGIURA C.

    J.of Phys.Soc.Jpn. 64, 848, 1995

    被引用文献1件

  • <no title>

    SUGIURA C.

    J.Jpn.Appl.Phys. 64, 848, 1995

    被引用文献1件

  • <no title>

    林洋樹

    表面技術 44, 697, 1993

    被引用文献4件

  • <no title>

    副島啓義

    電子線マイクロアナリシス 431, 1989

    被引用文献1件

  • <no title>

    KOOI B. J.

    Surf.Interface.Anal. 21, 501, 1994

    被引用文献1件

  • <no title>

    笹川薫

    CAMP-ISIJ 7, 1498, 1994

    被引用文献1件

  • <no title>

    鹿蘢康行

    X線分析の進歩 20, 79, 1988

    被引用文献1件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10004750987
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10056461
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    OTR
  • ISSN
    09146628
  • データ提供元
    CJP書誌 
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