低コヒーレント光干渉による面内複屈折測定 Birefringence Measurement by Low Coherence Interferometry

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抄録

We proposed and demonstrated a practical method for simultaneous measurement of the refractive index and the thickness of a transparent plate, based on the low coherence interferometry. This paper suggests that our method is applicable for birefringence measurement using unpolarized light source. Small birefringence of thin medium such as LiTaO<sub>3</sub> crystal is measured with high accuracy, by introducing dispersion compensation into the low coherence interferometry.

収録刊行物

  • 電気学会論文誌. E, センサ・マイクロマシン準部門誌 = The transactions of the Institute of Electrical Engineers of Japan. A publication of Sensors and Micromachines Society  

    電気学会論文誌. E, センサ・マイクロマシン準部門誌 = The transactions of the Institute of Electrical Engineers of Japan. A publication of Sensors and Micromachines Society 119(6), 315-320, 1999-06 

    The Institute of Electrical Engineers of Japan

参考文献:  12件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10004834012
  • NII書誌ID(NCID)
    AN1052634X
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    13418939
  • NDL 記事登録ID
    4739486
  • NDL 雑誌分類
    ZN31(科学技術--電気工学・電気機械工業)
  • NDL 請求記号
    Z16-B380
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL  J-STAGE 
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