格子欠陥 2.半導体 Lattice Defects 2.Semiconductors

この論文をさがす

著者

収録刊行物

  • 電子顕微鏡

    電子顕微鏡 35(2), 181-182, 2000-07-31

参考文献:  17件中 1-17件 を表示

  • <no title>

    TAKEUCHI S.

    Phys. Stat. Sol. (a) 171, 99, 1999

    被引用文献1件

  • <no title>

    GERTHSEN D.

    Philos. Mag. A 59, 1045, 1989

    被引用文献1件

  • <no title>

    LOUCHET F.

    philos. Mag. A 57, 327, 1988

    被引用文献1件

  • <no title>

    ISIDA K.

    Appl. Phys. Lett. 31, 397, 1977

    被引用文献1件

  • <no title>

    MAEDA K.

    Dislocations in Solids 10, 443, 1996

    被引用文献3件

  • <no title>

    SUZUKI K.

    Philos. Mag. A 73, 431, 1996

    被引用文献1件

  • <no title>

    KOLAR H. R.

    Phys. Rev. Lett. 77, 403, 1996

    被引用文献1件

  • <no title>

    INOUE M.

    J. Appl. Phys. 83, 1953, 1998

    被引用文献2件

  • <no title>

    GANG A.

    Philos. Mag.A 59, 479, 1989

    被引用文献1件

  • <no title>

    ERMENKO V. G.

    Phys. Stat. Sol. (a) 14, 317, 1972

    被引用文献1件

  • <no title>

    TAKEDA S.

    Philos, Mag. A 70, 287, 1994

    被引用文献1件

  • <no title>

    BOOKER G. R.

    Phil. Mag. 13, 71, 1966

    被引用文献1件

  • <no title>

    KATO M.

    Jpn. J. Appl. Phys. 35, 5597, 1996

    被引用文献38件

  • <no title>

    CHERNS D.

    Mater. Sci. & Engr. B 50, 76, 1997

    被引用文献1件

  • <no title>

    BONARD J.-M.

    J. Appl. Phys. 83, 1945, 1998

    被引用文献1件

  • <no title>

    OHNO Y.

    Rev. Sci. Instrum. 66, 4866, 1995

    被引用文献2件

  • <no title>

    PETROFF P. M.

    J. Appl. Phys. 45, 3899, 1974

    DOI 被引用文献4件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10004959576
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00145000
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    04170326
  • データ提供元
    CJP書誌 
ページトップへ