解説 FE-SEM/OIM法を用いた粒界微細組織の定量解析と粒界工学への応用

• 蓮川 貞弘

• 渡邊 忠雄

書誌事項

タイトル別名

• カイセツ FE SEM OIMホウ オ モチイタ リュウカイ ビサイ ソシキ ノ テイリョウ カイセキ ト リュウカイ コウガク エ ノ オウヨウ

収録刊行物

• 電子顕微鏡 / 「電子顕微鏡」編集委員会 編

  電子顕微鏡 / 「電子顕微鏡」編集委員会 編 36 (3), 169-175, 2001

  東京 : 日本顕微鏡学会

キーワード

• 粒界性格分布
• EBSP
• ナノ結晶

詳細情報

• CRID: 1520853834038573312
• NII論文ID: 10007449831
• NII書誌ID: AN00153086
• ISSN: 04170326
• NDL書誌ID: 6021580
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I6021580
• 本文言語コード: ja
• NDL 雑誌分類:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• データソース種別:
  • NDL
  • CiNii Articles