エネルギー損失広域微細構造による短距離構造相関の解析—二体分布から多体分布導出へ—

• 武藤 俊介

  名古屋大学理工科学総合研究センター

• 田辺 哲朗

  名古屋大学理工科学総合研究センター

書誌事項

タイトル別名

• Analysis of Short-Range Structural Correlation with Extended Energy-Loss Fine Structure—Towards Many-Body Distribution Beyond Two-Body Distribution—
• エネルギー損失広域微細構造による短距離構造相関の解析--二体分布から多体分布導出へ
• エネルギー ソンシツ コウイキ ビサイ コウゾウ ニ ヨル タンキョリ コウゾウ ソウカン ノ カイセキ 2タイ ブンプ カラ タタイ ブンプ ドウシュツ エ
• Analysis of Short-Range Structural Correlation with Extended Energy-Loss Fine Structure—Towards Many-Body Distribution Beyond Two-Body Distribution—

抄録

The principle, method and application of extended energy-loss fine structure (EXELFS) in electron energy-loss spectroscopy, which is effective in analyzing short-range structural correlations, are briefly described. Not only several issues peculiar to the EXELFS analysis are pointed out, but also a new method by applying a ‘wavelet transform’ is proposed. As an example of the EXELFS application, changes in the two- and three-body structural correlations in synchrotron X-ray irradiated amorphous silicon thin films are introduced.

収録刊行物

• 日本金属学会誌

  日本金属学会誌 65 (5), 332-337, 2001

  公益社団法人 日本金属学会

キーワード

• electron energy-loss spectroscopy
• extended energy-loss fine structure
• short-range order
• amorphous
• three-body distribution

詳細情報

• CRID: 1390282681467988608
• NII論文ID: 130007341816
• NII論文ID: 10007480879
• NII書誌ID: AN00187860
• DOI: 10.2320/jinstmet1952.65.5_332
• ISSN: 18806880
• ISSN: 24337501
• ISSN: 00214876
• ISSN: http://id.crossref.org/issn/00214876
• NDL書誌ID: 5780270
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I5780270
• Web Site: https://www.jstage.jst.go.jp/article/jinstmet1952/65/5/65_5_332/_pdf
• データソース種別:
  • JaLC
  • NDL
  • Crossref
  • CiNii Articles
• 抄録ライセンスフラグ: 使用不可