電子部品の腐食性ガス試験の現状 : 一般環境模擬試験方法の研究 The Present Situation of Corrosive Gas Test for Electronic Parts : Inrestigation of Gas Test for Simulating Ordinary Environment

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著者

    • 原口 智 HARAGUSHI Satoshi
    • (株)東芝 電力・産業システム技術開発センター Toshiba Corporation, Power and Industrial System R&B Cecter
    • 井田 貞夫 IDA Sadao
    • (株)東芝 電力・産業システム技術開発センター Toshiba Corporation, Power and Industrial System R&B Cecter

収録刊行物

  • 表面技術 = The journal of the Surface Finishing Society of Japan

    表面技術 = The journal of the Surface Finishing Society of Japan 53(2), 96-103, 2002-02-01

    The Surface Finishing Society of Japan

参考文献:  12件中 1-12件 を表示

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    中村国臣

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    谷口皓一

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    平本抽

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    原口智

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    被引用文献2件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10008007129
  • NII書誌ID(NCID)
    AN1005202X
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    09151869
  • NDL 記事登録ID
    6063294
  • NDL 雑誌分類
    ZP41(科学技術--金属工学・鉱山工学)
  • NDL 請求記号
    Z17-291
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL  J-STAGE 
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