産業用X線CT技術の進展 : 高密度実装半導体および材料試験複合装置による応用 Technological Progress of Industrial CT Scanner : Applications to Highly Integrated Semiconductor and CT System Combined with Material Testing Machine

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収録刊行物

  • 実験力学 : journal of JSEM

    実験力学 : journal of JSEM 1(3), 127-131, 2001-10

    日本実験力学会

参考文献:  6件中 1-6件 を表示

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10008203534
  • NII書誌ID(NCID)
    AA11822914
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    13464930
  • NDL 記事登録ID
    5941659
  • NDL 雑誌分類
    ZM17(科学技術--科学技術一般--力学・応用力学)
  • NDL 請求記号
    Z74-C355
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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