新しい機能を組み込んだ高分解能・超高真空電子顕微鏡の開発と金ナノワイヤー,ナノ薄膜の構造観察 Development of ultrahigh resolution and ultrahigh vacuum electron microscope with new function

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著者

    • 近藤 行人 KONDO Yukihito
    • 日本電子株式会社 Development of ultrahigh resolution and ultrahigh vacuum electron microscope with new function

収録刊行物

  • 電子顕微鏡

    電子顕微鏡 37(1), 2-6, 2002-03-30

    The Japanese Society of Microscopy

参考文献:  14件中 1-14件 を表示

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10008217159
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00145000
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    04170326
  • NDL 記事登録ID
    6142209
  • NDL 雑誌分類
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL 請求記号
    Z16-896
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL  J-STAGE 
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