低速電子顕微鏡によるSi(111)表面での質量輸送の研究 A Study of Mass Transport on Si(111) Surfaces by Low-energy Electron Microscopy

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  • 表面科学

    表面科学 23(5), 277-284, 2002-05-10

    日本表面科学会

参考文献:  11件中 1-11件 を表示

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10008563425
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00334149
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    03885321
  • NDL 記事登録ID
    6161135
  • NDL 雑誌分類
    ZM35(科学技術--物理学)
  • NDL 請求記号
    Z15-379
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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