無機化合物のGa^+1次イオンTOF-SIMSフラグメント・パターン推定への同位体存在比導入の試み Consideration of Isotope Abundance in the Inference of Ga^+ Primary Ion TOF-SIMS Fragment Pattern of Inorganic Compounds

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著者

収録刊行物

  • 表面科学

    表面科学 23(6), 389-394, 2002-06-10

    日本表面科学会

参考文献:  3件中 1-3件 を表示

  • <no title>

    李展平

    表面科学 21, 651, 2001

    被引用文献1件

  • <no title>

    HIROKAWA K.

    Fresenius J. Anal. Chem. 370, 346, 2001

    被引用文献1件

  • <no title>

    李展平

    表面科学 23, 209, 2002

    被引用文献3件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10008563849
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00334149
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    NOT
  • ISSN
    03885321
  • NDL 記事登録ID
    6184755
  • NDL 雑誌分類
    ZM35(科学技術--物理学)
  • NDL 請求記号
    Z15-379
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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