X線回折による酸化物の局所構造評価の新たな試み New-Methods for Local Structural Analyses of Oxides by X-rays

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収録刊行物

  • セラミックス

    セラミックス 37(6), 452-456, 2002-06-01

    日本セラミックス協会

参考文献:  10件中 1-10件 を表示

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    YOUNG R. A.

    The Rietveld Method, 1993

    被引用文献3件

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    高田昌樹

    まてりあ 40, 267-276, 2001

    被引用文献1件

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    泉富士夫

    http://homepage.mac.com/fujioizumi/index.htm1

    被引用文献1件

  • X線粉末回折法

    虎谷秀穂

    実験化学講座10回折, 287-334, 1990

    被引用文献1件

  • <no title>

    桜井雅樹

    第130回日本金属学会春期大会概要, 2002

    被引用文献1件

  • <no title>

    HAYASHI K.

    Phys. Rev. B 63, R41201-R41204, 2001

    被引用文献7件

  • <no title>

    TAKAHASHI Y.

    Proc. 4th Int'l Conf. on Advanced Mater. Proc. (Dec. 11-15, 2001, Honolulu, Hawai USA), 591-94, 2001

    被引用文献1件

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    YOSHIDA H.

    Phill. Mag. Lett. 79, 249-256, 1999

    被引用文献11件

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    YOSHIDA H.

    Mater. Sci. Eng. 319-321, 843-848, 2001

    被引用文献2件

  • 蛍光X線ホログラフィー技術の現状とその将来的展開

    林 好一 , 高橋 幸生 , 松原 英一郎

    まてりあ : 日本金属学会会報 40(9), 801-807, 2001-09-20

    J-STAGE 参考文献31件 被引用文献1件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10008570003
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00131516
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    0009031X
  • NDL 記事登録ID
    6178184
  • NDL 雑誌分類
    ZP9(科学技術--化学・化学工業--無機化学・無機化学工業--セラミックス・窯業)
  • NDL 請求記号
    Z17-206
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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