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著者

    • 石川 花子
    • 独立行政法人製品評価技術基盤機構適合性評価センター
    • 内藤 直美
    • 独立行政法人製品評価技術基盤機構適合性評価センター

収録刊行物

  • ぶんせき

    ぶんせき 330, 333-334, 2002-06-05

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10008596196
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00222622
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    OTR
  • ISSN
    03862178
  • データ提供元
    CJP書誌 
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