透過電子顕微鏡の先進機能をもっと活用しよう　（１）　　収束電子回折（ＣＢＥＤ）法の基礎

• 田中 通義

  東北大学多元物質科学研究所

書誌事項

タイトル別名

• Fundamentals of Convergent Beam Electron Diffraction.
• デンシ ケンビキョウ ニュウモン コウザ チュウキュウヘン トウカ デンシ ケンビキョウ ノ センシン キノウ オ モット カツヨウ シヨウ 1 シュウソク デンシ カイセツ CBED ホウ ノ キソ

抄録

Fundamentals of convergent-beam electron diffraction (CBED) are described. First, the CBED method is explained and an obtained CBED pattern is shown. Then, it is described what kind of crystallographic information can be obtained by the CBED method. The characteristic profiles of higher order Laue zone (HOLZ) reflections are explained by the dynamical diffraction effect. The large angle (LACBED) technique and its application to identify the types of dislocations are given. The coherence effect appearing at the overlapping regions of two CBED disks is explained.

収録刊行物

• 日本結晶学会誌

  日本結晶学会誌 44 (3), 150-160, 2002

  日本結晶学会

詳細情報

• CRID: 1390282679064521216
• NII論文ID: 10008687312
• NII書誌ID: AN00188364
• DOI: 10.5940/jcrsj.44.150
• ISSN: 18845576
• ISSN: 03694585
• NDL書誌ID: 6199808
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I6199808
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • NDL
  • Crossref
  • CiNii Articles
• 抄録ライセンスフラグ: 使用不可