電子顕微鏡入門講座(中級編)透過電子顕微鏡の先進機能をもっと活用しよう(1)収束電子回折(CBED)法の基礎 Fundamentals of Convergent Beam Electron Diffraction

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抄録

Fundamentals of convergent-beam electron diffraction (CBED) are described. First, the CBED method is explained and an obtained CBED pattern is shown. Then, it is described what kind of crystallographic information can be obtained by the CBED method. The characteristic profiles of higher order Laue zone (HOLZ) reflections are explained by the dynamical diffraction effect. The large angle (LACBED) technique and its application to identify the types of dislocations are given. The coherence effect appearing at the overlapping regions of two CBED disks is explained.

収録刊行物

  • 日本結晶学会誌

    日本結晶学会誌 44(3), 150-160, 2002-06-28

    The Crystallographic Society of Japan

参考文献:  9件中 1-9件 を表示

  • <no title>

    田中通義

    日本結晶学会誌 42, 264, 2000

    被引用文献1件

  • <no title>

    田中通義

    電子顕微鏡 35, 46, 2000

    被引用文献1件

  • <no title>

    田中通義

    日本金属学会会報 28, 220, 1989

    被引用文献1件

  • <no title>

    田中通義

    電子顕微鏡 17, 195, 1982

    被引用文献1件

  • <no title>

    津田健治

    固体物理 36, 10, 2001

    被引用文献1件

  • <no title>

    TANAKA M.

    J of Microscopy 194, 219, 1999

    被引用文献1件

  • <no title>

    HIRSCH P. B.

    Electron Microscopy of Thin Crystals.

    被引用文献1件

  • <no title>

    TANAKA M.

    J. Elecrton Microsc 40, 211, 1991

    被引用文献1件

  • <no title>

    TANAKA M.

    J. Electron Microsc. 29, 408, 1980

    被引用文献5件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10008687312
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00188364
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    03694585
  • NDL 記事登録ID
    6199808
  • NDL 雑誌分類
    ZM46(科学技術--地球科学--岩石・鉱物・鉱床)
  • NDL 請求記号
    Z15-138
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL  J-STAGE 
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