Wide area mapping of uneven specimens in an electron probe X-ray microanalyser with wavelength dispersive spectrometers

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著者

収録刊行物

  • Journal of electron microscopy

    Journal of electron microscopy 47(1), 39-46, 1998-02-01

    Published for the Japanese Society of Electron Microscopy by Oxford University Press

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10008812643
  • NII書誌ID(NCID)
    AA00697060
  • 本文言語コード
    ENG
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    00220744
  • NDL 記事登録ID
    4462708
  • NDL 雑誌分類
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL 請求記号
    Z53-T76
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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