Application of low vacuum scanning electron microscope in cytological field

• TANAKA K.

収録刊行物

• J. Electron Microsc.

  J. Electron Microsc. 45 344-, 1996

詳細情報

• CRID: 1573105974495102976
• NII論文ID: 10008813214
• データソース種別:
  • CiNii Articles