Structure modelling of Σ3 and Σ9 coincident boundaries in CVD diamond thin films

この論文をさがす

著者

収録刊行物

  • Journal of electron microscopy

    Journal of electron microscopy 48(3), 245-251, 1999-06-01

    Published for the Japanese Society of Electron Microscopy by Oxford University Press

参考文献:  19件中 1-19件 を表示

被引用文献:  1件中 1-1件 を表示

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10008814722
  • NII書誌ID(NCID)
    AA00697060
  • 本文言語コード
    ENG
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    00220744
  • NDL 記事登録ID
    4756822
  • NDL 雑誌分類
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL 請求記号
    Z53-T76
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用  NDL 
ページトップへ