Four generations of high-voltage electron microscopes

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  • Journal of electron microscopy

    Journal of electron microscopy 48(4), 301-315, 1999-08-01

    Published for the Japanese Society of Electron Microscopy by Oxford University Press

参考文献:  68件中 1-68件 を表示

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10008814882
  • NII書誌ID(NCID)
    AA00697060
  • 本文言語コード
    ENG
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    00220744
  • NDL 記事登録ID
    4835440
  • NDL 雑誌分類
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL 請求記号
    Z53-T76
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用  NDL 
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