In-situ observation of atomic processes in Xe nanocrystals embedded in Al

• MITSUISHI K.

収録刊行物

• Mat. Res. Soc. Symp. Proc.

  Mat. Res. Soc. Symp. Proc. 504 417-422, 1999

詳細情報

• CRID: 1570854174681401856
• NII論文ID: 10008815391
• データソース種別:
  • CiNii Articles