Amplitude correction in image deconvolution for determining crystal defects at atomic level

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著者

    • Li F.H. LI F. H.
    • Institute of Physics & Center for Condensed Matter Physics, Chinese Academy of Sciences
    • Wang D. WANG D.
    • Institute of Physics & Center for Condensed Matter Physics, Chinese Academy of Sciences
    • JIANG H.
    • Institute of Physics & Center for Condensed Matter Physics, Chinese Academy of Sciences

収録刊行物

  • Journal of electron microscopy

    Journal of electron microscopy 49(1), 17-24, 2000-02-01

    Published for the Japanese Society of Electron Microscopy by Oxford University Press

参考文献:  42件中 1-42件 を表示

被引用文献:  1件中 1-1件 を表示

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10008816953
  • NII書誌ID(NCID)
    AA00697060
  • 本文言語コード
    ENG
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    00220744
  • NDL 記事登録ID
    5315598
  • NDL 雑誌分類
    ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
  • NDL 請求記号
    Z53-T76
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用  NDL 
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