M系列相関とニューラルネットワークを用いる論理回路の故障診断 Fault Diagnosis of a Logical Circuit by Use of M-Sequence Correlation with Neural Network

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著者

収録刊行物

  • 計測自動制御学会論文集

    計測自動制御学会論文集 38(6), 517-520, 2002-06-30

    計測自動制御学会

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10008831430
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00072392
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    04534654
  • NDL 記事登録ID
    6199611
  • NDL 雑誌分類
    ZM11(科学技術--科学技術一般--制御工学)
  • NDL 請求記号
    Z14-482
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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