金属/半導体界面反応の STEM による原子直視観察 Direct Atomistic Observation of Reactions in Metal/Semiconductor Interfaces by STEM

この論文にアクセスする

この論文をさがす

著者

収録刊行物

  • まてりあ : 日本金属学会会報

    まてりあ : 日本金属学会会報 40(12), 992, 2001-12-20

    公益社団法人 日本金属学会

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10008847761
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10433227
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    13402625
  • データ提供元
    CJP書誌  J-STAGE 
ページトップへ