Sio_2/Si 界面構造の原子スケール直接観察 Atomic Structure at a SiO_2./Si Interface

この論文にアクセスする

この論文をさがす

著者

収録刊行物

  • まてりあ : 日本金属学会会報

    まてりあ : 日本金属学会会報 40(12), 996, 2001-12-20

    公益社団法人 日本金属学会

参考文献:  3件中 1-3件 を表示

  • <no title>

    IKARASHI N.

    Jpn. J. Appl. Phys. 39, 1278, 2000

    被引用文献2件

  • <no title>

    IKARASHI N.

    Phys. Rev. B 62, 15989, 2000

    DOI 被引用文献10件

  • <no title>

    IKARASHI N.

    J. Appl. Phys. 90, 2683, 2001

    DOI 被引用文献5件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10008847771
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10433227
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    13402625
  • データ提供元
    CJP書誌  J-STAGE 
ページトップへ