EM-EDS 法による化合物半導体レーザの組成定量評価 Quantitative X-ray Spectroscopy of Compound Semiconductor LASER

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著者

    • 岡野 哲之 OKANO Tetsuyuki
    • 株式会社松下テクノリサーチ半導体解析チーム Characterization Technology Team, Matsushita Technoreseach, Inc.
    • 荒井 美奈 ARAI Mina
    • 株式会社松下テクノリサーチ半導体解析チーム Characterization Technology Team, Matsushita Technoreseach, Inc.
    • 神前 隆 KOUZAKI Takashi
    • 株式会社松下テクノリサーチ半導体解析チーム Characterization Technology Team, Matsushita Technoreseach, Inc.

収録刊行物

  • まてりあ : 日本金属学会会報

    まてりあ : 日本金属学会会報 40(12), 1005, 2001-12-20

    公益社団法人 日本金属学会

参考文献:  2件中 1-2件 を表示

  • <no title>

    梅村馨

    電子顕微鏡学会第55回学術講演会発表要旨集 82, 1999

    被引用文献1件

  • <no title>

    岡野哲之

    電子顕微鏡学会第56回学術講演会発表要旨集 185, 2000

    被引用文献1件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10008847798
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10433227
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    13402625
  • データ提供元
    CJP書誌  J-STAGE 
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