埋め込み型 LD における歪量子井戸活性層の格子定数測定 Lattice Parameter Measurement of Strained Layer Multiple Quantum Well in Buried Laser Diode

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収録刊行物

  • まてりあ : 日本金属学会会報

    まてりあ : 日本金属学会会報 40(12), 1006, 2001-12-20

    公益社団法人 日本金属学会

参考文献:  1件中 1-1件 を表示

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    村山慶人

    電子顕微鏡 36 Supplement 1, 45, 2001

    被引用文献1件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10008847801
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10433227
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    13402625
  • データ提供元
    CJP書誌  J-STAGE 
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