走査干渉電子顕微鏡法による局所磁化量の定量解析 Quantitative Analyses of Local Magnetization Distribution by Scanning Interference Electron Microscopy

この論文にアクセスする

この論文をさがす

著者

収録刊行物

  • まてりあ : 日本金属学会会報

    まてりあ : 日本金属学会会報 40(12), 1018, 2001-12-20

    公益社団法人 日本金属学会

参考文献:  3件中 1-3件 を表示

  • <no title>

    YAJIMA Y.

    Jpn. J. Appl. Phys. 35, 2851, 1996

    被引用文献1件

  • <no title>

    TAKAHASHI Y.

    Jpn. J. Appl. Phys. 84, 1485, 1998

    被引用文献1件

  • <no title>

    LEUTHNER T.

    Phys.Status Solidi A116, 113, 1989

    DOI 被引用文献2件

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10008847837
  • NII書誌ID(NCID)
    AN10433227
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    REV
  • ISSN
    13402625
  • データ提供元
    CJP書誌  J-STAGE 
ページトップへ