粒界・界面の観察と解析　（ＩＩ）

• 幾原 雄一

  東京大学工学部総合研究機構

• 山本 剛久

  東京大学新領域創成科学研究科

書誌事項

タイトル別名

• Grain boundary and interface characterization by TEM (II)
• コウザ リュウカイ カイメン ノ カンサツ ト カイセキ 2

収録刊行物

• 電子顕微鏡

  電子顕微鏡 37 (2), 129-133, 2002

  公益社団法人　日本顕微鏡学会

キーワード

• 高分解能電子顕微鏡法
• ナノプローブ
• エネルギー分散型X線分光
• 電子エネルギー損失分光
• 走査透過電子顕微鏡法

詳細情報

• CRID: 1390001204734119936
• NII論文ID: 10009532788
• NII書誌ID: AN00153086
• DOI: 10.11410/kenbikyo1950.37.129
• COI: 1:CAS:528:DC%2BD38Xms1Sru74%3D
• NDL書誌ID: 6253899
• ISSN: 04170326
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I6253899
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • NDL
  • CiNii Articles
  • Crossref