散乱光粘弾性法による残留応力の解析

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タイトル別名
  • Photoviscoelastic Analysis of Residual Stress by Scattered Light Method

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  • CRID
    1570854174763711360
  • NII論文ID
    10009828722
  • NII書誌ID
    AN00360750
  • ISSN
    09109862
  • 本文言語コード
    ja
  • データソース種別
    • CiNii Articles

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