各種顕微鏡法による先端材料評価最前線　２３　　低エネルギー電子顕微鏡と光電子顕微鏡による動的観察と構造解析

• 越川 孝範

  大阪電気通信大学工学研究科 大阪電気通信大学エレクトロニクス基礎研究所・学術フロンティア推進センター

• 安江 常夫

  大阪電気通信大学エレクトロニクス基礎研究所・学術フロンティア推進センター

書誌事項

タイトル別名

• Dynamic Observation and Structure Analysis with Low Energy Electron Microscopy and Photo-Electron Emission Microscopy

収録刊行物

• まてりあ

  まてりあ 41 (12), 884-885, 2002

  公益社団法人 日本金属学会

キーワード

• low energy electron microscopy
• photo electron emission microscopy
• surface microscopy
• SPLEEM
• XPEEM
• SPELEEM
• low energy electron diffusion
• dynamic observation

詳細情報

• CRID: 1390282679032010240
• NII論文ID: 10010600443
• NII書誌ID: AN10433227
• DOI: 10.2320/materia.41.884
• ISSN: 18845843
• ISSN: 13402625
• Web Site: https://www.jstage.jst.go.jp/article/materia1994/41/12/41_12_884/_pdf
• 本文言語コード: ja
• データソース種別:
  • JaLC
  • Crossref
  • CiNii Articles