空間的縞解析法を用いた電子的スペックル干渉法のパラメーター設定 Setting of Parameters in Electronic Speckle Pattern Interferometry Based on Spatial Fringe Analysis Method

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著者

    • 新井 泰彦 ARAI Yasuhiko
    • 関西大学工学部機械工学科 Department of Mechanical Engineering, Faculty of Engineering, Kansai University
    • 横関 俊介 YOKOZEKI Shunsuke
    • 九州工業大学情報工学部機械システム工学科 Department of Mechanical System Engineering, Faculty of Computer Science and System Engineering, Kyushu Institute of Technology

収録刊行物

  • 光学

    光学 30(1), 49-55, 2001-01-10

    応用物理学会分科会日本光学会

参考文献:  10件中 1-10件 を表示

被引用文献:  9件中 1-9件 を表示

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10012331360
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00080324
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    03896625
  • NDL 記事登録ID
    5658050
  • NDL 雑誌分類
    ZM35(科学技術--物理学)
  • NDL 請求記号
    Z15-269
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用  NDL 
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