位相変調型微分干渉顕微鏡 : 透過物体の位相分布の定量測定 Retardation Modulated Differential Interference Contrast Microscope : Quantitative Phase Measurements

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著者

収録刊行物

  • 光学

    光学 30(9), 605-612, 2001-09-10

    応用物理学会分科会日本光学会

参考文献:  7件中 1-7件 を表示

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10012332751
  • NII書誌ID(NCID)
    AN00080324
  • 本文言語コード
    JPN
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    03896625
  • NDL 記事登録ID
    5909991
  • NDL 雑誌分類
    ZM35(科学技術--物理学)
  • NDL 請求記号
    Z15-269
  • データ提供元
    CJP書誌  NDL 
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