High-Resolution Beam Profiler for Engineering Laterally-Grown Grain Morphology

この論文をさがす

著者

収録刊行物

  • IEICE transactions on electronics

    IEICE transactions on electronics 86(11), 2275-2277, 2003-11-01

参考文献:  6件中 1-6件 を表示

被引用文献:  2件中 1-2件 を表示

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10012451847
  • NII書誌ID(NCID)
    AA10826283
  • 本文言語コード
    ENG
  • 資料種別
    SHO
  • ISSN
    09168524
  • データ提供元
    CJP書誌  CJP引用 
ページトップへ