Non-scan Design for Testability for Synchronous Sequential Circuits Based on Fault-Oriented Conflict Analysis

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著者

    • GU Shan
    • School of Software, Tsinghua University
    • FUJIWARA Hideo
    • Graduate School of Information Science, Nara Institute of Science and Technology

収録刊行物

  • IEICE transactions on information and systems

    IEICE transactions on information and systems 86(11), 2407-2417, 2003-11-01

参考文献:  19件中 1-19件 を表示

各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10012452264
  • NII書誌ID(NCID)
    AA10826272
  • 本文言語コード
    ENG
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    09168532
  • データ提供元
    CJP書誌 
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