Optical characterization of individual semiconductor nanostructures using a scanning tunneling microscope

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収録刊行物

  • Journal of electron microscopy

    Journal of electron microscopy 53(2), 169-175, 2004-04-01

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各種コード

  • NII論文ID(NAID)
    10012932680
  • NII書誌ID(NCID)
    AA00697060
  • 本文言語コード
    ENG
  • 資料種別
    ART
  • ISSN
    00220744
  • データ提供元
    CJP書誌 
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