Multi-frequency Test Access Mechanism Design for Modular SOC Testing

収録刊行物

Proc. of IEEE the 11th Asian Test Symposium, Nov. 2004  

Proc. of IEEE the 11th Asian Test Symposium, Nov. 2004, 2004 

被引用文献:  1件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID) :
    10015407807
  • 資料種別 :
    会議資料
  • 収録DB :
    CJP引用