ばらつきを有するICで構成したTTL回路の電源電流による統計的断線故障検出法

• 月本 功

• 橋爪 正樹

• 四柳 浩之

Bibliographic Information

Other Title

• バラツキ オ ユウスル IC デ コウセイ シタ TTL カイロ ノ デンゲン デンリュウ ニ ヨル トウケイテキ ダンセン コショウ ケンシュツホウ

Journal

• エレクトロニクス実装学会誌 = Journal of the Japan Institute of Electronics Packaging

  エレクトロニクス実装学会誌 = Journal of the Japan Institute of Electronics Packaging 8 (3), 199-207, 2005-05

  東京 : エレクトロニクス実装学会

Keywords

• open
• Supply Current Test

Details

• CRID: 1520853834658646016
• NII Article ID: 10015530074
• NII Book ID: AA11231565
• ISSN: 13439677
• NDL BIB ID: 7350581
• Web Site: https://ndlsearch.ndl.go.jp/books/R000000004-I7350581
• Text Lang: ja
• NDL Source Classification:
  • ZN33(科学技術--電気工学・電気機械工業--電子工学・電気通信)
• Data Source:
  • NDL
  • CiNii Articles