Area and time co-optimization for system-on-a-chip based on consecutive testability

収録刊行物

IEEE International Test Conference 2003 (ITC'03), Sep.  

IEEE International Test Conference 2003 (ITC'03), Sep., 2003 

被引用文献:  1件

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各種コード

  • NII論文ID(NAID) :
    10017115768
  • 資料種別 :
    会議資料
  • 収録DB :
    CJP引用